PRESENTASI NANOMATERIAL
-
Upload
marliya-ulfa -
Category
Documents
-
view
246 -
download
0
Transcript of PRESENTASI NANOMATERIAL
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
1/13
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
2/13
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (SEM)
SEMadalah salahsatu jenis mikroskopelektron yang
menggunakan berkaselektron untukmenggambar proflpermukaan benda.
Prinsip kerja SEMadalah menembakkanpermukaan benda
dengan berkas
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
3/13
Dalam SEM berkas elektron berenergi tinggimengenai permukaan material. Elektron pantulandan elektron sekunder dipancarkan kembalidengan sudut yang bergantung pada profl
permukaan material.
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
4/13
SEM memiliki resolusi yang lebih tinggi dibandingkan mikroskop
optik. Hal ini disebabkan oleh panjang gelombang de Broglie
yang dimiliki elektron lebih pendek daripada gelombang optik.
Makin kecil panjang gelombang yang digunakan maka makin
tinggi resolusi mikroskop.
Syarat agar SEM dapat menghasilkan citra yang tajam, yakni
permukaan benda harus bersifat sebagai pemantul elektron atau
dapat melepaskan elektron sekunder ketika ditembak dengan
berkas elektron. Material yang memiliki sifat demikian adalah
logam. Jika permukaanlogam diamati di bawah SEM maka profil
permukaan akan tampak dengan jelas.
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
5/13
Permukaan Isolator perlu dilapisi logam
agar dapat diamati dengan jelas di bawah
SEM.
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
6/13
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM)
TEM merupakan alat yang paling teliti yangdigunakan untuk menentukan ukuran partikelkarena resolusinya yang sangat tinggi. Partikeldengan ukuran beberapa nanometer dapat
diamati dengan jelas menggunakan TEM. ahkandengan high resolution TEM !"#$TEM% kita dapatmengamati posisi atom$atom dalam partikel.
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
7/13
Prinsip kerja TEM yaknisample yang sangat tipis
ditembak dengan berkaselectron yang berenergisangat tinggi !dipercepatpada tegangan ratusan k&%.erkas electron dapatmenembus bagian yang'lunak( sample tetapi ditahanoleh bagian keras sample!seperti partikel%. Detektor
yang berada di belakangsample menangkap berkaselectron yang lolos daribagian lunak sample.
)kibatnya detectormenan ka ba an an an
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
8/13
Ini adalah contoh *oto TEM
sample partikel dan
carbon nanotube. Dari
citra +,T tampak garis$
garis adalah barisan
atom$atom karbon yang
membentuk dinding
multiwall carbon
nanotube. -umlah lapisan
kulit dapat ditentukan
dengan mudah hanya
dengan menghitung
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
9/13
)TMI+ /#+E MI+#S+P0
Prinsip 1erja
)/M juga sangat sederhana dan dapat dipahami hanyadengan konsep$konsep fsika dasar. )/M memerlukan sistem2akum3 tegangan tinggi3 maupun *asilitas pendinginan padaSEM dan TEM.
+,T" 4)M)# 0),4 DI)M)TI
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
10/13
+,T" 4)M)# 0),4 DI)M)TI5E" )/M
Perangkat utama sebuah )/M adalahsebuah tip yang sangat tajam yangditempatkan di ujung cantile2er yangakan di gerakkan selama permukaanbenda yang teramati.
Dengan adanya tekstur
permukaan benda yang tidak ratamaka selama mengerakkan tip sudutkemiringan cantile2er berubah$ubah.Perubahan sudut tersebutmemberikan in*ormasi kealamantekstur permukaan benda.
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
11/13
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
12/13
1ESIMP65),
1arakterisasi sangat diperlukan untuk
memberi keyakinan bahwa kita telah berhasilmensintesis material dengan struktur
nanometer. 1arakterisasi juga akanmemberikan in*ormasi si*at$si*at material.In*ormasi si*at$si*at tersebut memberipeluang rekayasa material dalam skalananometer untuk menghasilkan si*at khas
yang berguna.
-
7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL
13/13
SEKIAN
&
TERIMA KASIH